Charakterisierungen unterschiedlichster Oberflächen mit hoher Auflösung vom Mikro- bis in den Nanometerbereich. Qualitative und quantitative Charakterisierung und Beurteilung der Oberflächentopographie von Metallen, Keramiken, Kunststoffen, Verbundwerkstoffen u.a.

So funktioniert ein Rasterkraftmikroskop

Die Grundlage des Rasterkraftmikroskops (Atomic Force Microscopy; (AFM)) ist eine feine Tastspitze, mit der die Probenoberfläche abgerastert wird. Ein Lasersystem registriert die vertikale und laterale Position der Tastspitze und erzeugt somit ein genaues 3-dimensionales Bild der Probenoberfläche. Die Daten können quantitativ in Form von Höhenprofilen, Rauhigkeitskenngrößen, Flächenanteilen von Phasen etc. ausgewertet werden.

Vorteile dieser Methode

Neben genauen Topographiemessungen ermöglicht die Methode die Detektion lokaler Unterschiede von Materialeigenschaften (Härte, Adhäsion). Sie ist anwendbar auf jegliche Art von Werkstoffen und erfordert eine minimale Probenpräparation.

Unser Rasterkraftmikroskop	Untersuchung eines Verbundwerk- stoffes im Phasenkontrastmodus

Einige Anwendungsgebiete

• Charakterisierung von Beschichtungen (metallisch, nichtmetallisch, organisch, anorganisch)
• Rauhigkeitsmessungen bis in den Nanobereich
• tribologische Untersuchungen
• Untersuchung von Kunststoffen

Charakterisierung von PVD-Schichten

Die Rasterkraftmikroskopie bietet Zugriffsmöglichkeiten auf eine Vielfalt von Informationen, die in oder auf einer Oberfläche verborgen sein können.

Lieferzeit

Die Lieferzeit für Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen beträgt in der Regel 2-3 Arbeitstage.

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