So funktioniert die Elektronenstrahl-Mikroanalyse

Ein fein gebündelter Elektronenstrahl erzeugt am Untersuchungsobjekt Röntgenstrahlung. Die Röntgenwellenlängen sind für Probenelemente charakteristisch. Durch Analyse der Röntgenstrahlung auf Wellenlängen und Intensitäten ist die Bestimmung der Elementkonzentrationen mit hoher Genauigkeit möglich.

Prinzip der Elektronenstrahl-Mikroanalyse Die Ausstattung unserer Joel JXA-8800 Elektronenmikrosonde beinhaltet drei WDX Spektrometer und einen EDX-Detektor.

Vorteile dieser Methode

Die Methode ermöglicht genaue chemische Analysen von Werkstoffen jeglicher Art mit hoher örtlicher Auflösung (1-150 µm). Es können alle Elemente inklusive der “leichten“ Elemente ab der Ordnungszahl 5 (z.B. O, C oder N) analysiert werden. Die Nachweisgrenze beträgt je nach Element und Probe 10-500 µg/g (ppm).

Einige Anwendungsgebiete

• Chemische Zusammensetzung sehr kleiner Proben
• Lokale Analyse im Mikrometerbereich (Phasen, Einschlüsse,…)
• Zusammensetzung von Schichten (Plasmaspritzschichten, galvanische Schichten, Oxidschichten, etc.)
• Spurenanalytik

		Element  Al Si P S Ti V	(Gew.%) <0.050 0.20 <0.050 0.025 <0.050 <0.050
Elemetverteilungsbilder einer Plasmaspritzschicht Oben links: SE Bild und in der Reihenfolge Cr, Al u. O	Vollquantitative chemische Analyse einer sehr kleinen Probe Der Durchmesser des analysierten Bereichs beträgt ca 5µm	Cr Mn Co Ni Cu Nb Mo W Fe	21.2 0.82 0.28 12.5 0.45 <0.050 0.38 <0.050 Basis

Lieferzeit

Die Lieferzeit für Elektronenstrahl-Mikroanalysen beträgt in der Regel 2-3 Arbeitstage.

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