Werkstoffanalysen
Glimmentladungsspektroskopie (GDOS)
Die Analyse von Oberflächenschichten, Randzonen sowie Zwischenschichten gewinnt zunehmend an Bedeutung. Dazu hat sich die Glimmentladungs-Spektroskopie (GDOS) als ein hervorragendes Verfahren ausgezeichnet. Bei galvanischen, chemischen, CVD- und PVD-Schichten, Passivierungen, Nitrierungen sowie Belägen usw. kann mit Tiefenprofilanalysen der quantitative Verlauf der Elemente sehr präzis bestimmt werden. Diese Methode wird bei Sulzer Innotec neben anderen wichtigen analytischen Verfahren wie Scratch-Test, Universalhärteprüfung, Laserprofilometrie, Calotest, Mikrobereichsanalytik etc. erfolgreich eingesetzt.

Wie funktioniert GDOS?

Die Grundlage der Glimmentladung ist eine Gasentladungslampe, in der ein Strom von Niederdruck-Argonionen auf die Probe trifft und die Atome von der Probenoberfläche herausschlägt. Die abgesputterten Teilchen werden im Plasma durch Kollision mit anderen Partikeln angeregt und strahlen Lichtquanten aus, die von einem konventionellen optischen Emissionsspektrometer detektiert und ausgewertet werden.

Vorteile dieser Methode

Mit der Glimmentladung können praktisch alle Elemente (inklusive H, O, C und N) in Spuren- bis Hauptelement-Konzentrationen in allen Matrizes analysiert werden. Die hohen Sputterraten ermöglichen die Analyse von ca. 100 nm bis 100 µm dicken Zonen mit einer Auflösung von ca. 5 nm und einer relativen Genauigkeit der Tiefeninformation von ca. 5-10%.

Probenformat

Die zu analysierenden Proben sollten leitend sein und eine relativ ebene Oberfläche besitzen, die Dimensionen dürfen einen Durchmesser von 13 mm und eine Dicke von 0.1 mm nicht unterschreiten.

Lieferzeit

Die Lieferzeit für GDOS-Analysen beträgt in der Regel 2-3 Arbeitstage.

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