Wie funktioniert das Raster-Elektronenmikroskop (REM)?

Der fein gebündelte Elektronenstrahl wird zeilenförmig über die Oberfläche des Untersuchungsobjektes geführt. Der dabei von der Probe rückgestreute Elektronenstrom wird erfasst und auf dem Bildschirm dargestellt.

Unser Jeol JSM-IC 848A Mikroskop Die grosse Objektkammer erlaubt die Untersuchung von Proben und Bauteilen bis maximal Ø 200 x 50mm. Die Ausstattung beinhaltet einen EDX-Detektor für die Bestimmung von chemischen Zusammensetzungen.

Vorteile dieser Methode

Der wesentliche Vorteil der Raster-Elektronenmikroskopie ist die hohe Auflösung bei gleichzeitig grosser Tiefenschärfe. Vergrösserungen bis zu ca. 50'000fach können erzielt werden. Neben der genauen Darstellung der Oberflächentopographie können auch lokale Unterschiede in der Probenzusammensetzung sichtbar gemacht werden, sowie Elemente ab der Ordnungszahl 6 (inkl. O, C und N) können qualitativ bis halbquantitativ nachgewiesen werden.

Einige Anwendungsgebiete

• Charakterisierung von Werkstoffen und Oberflächen
• Untersuchung von Bruchflächen und Schadenfällen
• Qualitätskontrolle von Komponenten und Bauteilen
• Bestimmung der chemischen Zusammensetzung sehr kleiner Proben (ab Element Bor)

Komplexe Mikrostruktur eines keramischen Werkstoffes	Interkristalline Bruchzone an einem Turbo-Laufrad mit lokaler EDX-Element- analyse	Morphologie einer Schneidekante: Schleifscheibe nach ver- schärftem Versuchsbetrieb

Lieferzeit

Die Lieferzeit für Raster-Elektronenmikroskopie-Untersuchungen beträgt in der Regel 1 – 3 Arbeitstage. Gerne können unsere Kunden bei der Untersuchung anwesend sein.

SWA – Ihr kompetenter Partner in Sachen Schadenfall – Abklärung, Schadenanalyse, Werkstoffe, Werkstoffanalyse / Materialanalyse, Korrosion, Korrosionsschutz, Korrosionsprüfung, Wasser – Analysen, Mikrobiologie, Kunststoffe, Kunststoff – Charakterisierung, Metallographie, Asbest – Untersuchungen.